【FAお役立ち情報局⑩】オムロンの超高精度変位センサで検査課題を解決！

・もっと検査タクトを上げたい......

・もっと高精度に検査したい......

・透明体ワークの検査が上手くいかない......

突然ですがこういった検査課題をお持ちではないでしょうか？

今回はこのような検査課題を解決に導く、高性能変位センサZWシリーズについてご紹介いたします！

ZWシリーズとは、業界で初めて白色共焦点方式を検出方法として採用したオムロンのファイバ同軸変位センサになります。この検出方式により、ZWシリーズは粗面・曲面・傾斜・狭小エリアなど、様々な状態がワーク上に混在しても高精度かつ安定した移動計測を行うことができます！

まずは、白色共焦点方式の検出原理について簡単にご説明いたします。

光源には白色光を使用しており、オムロン独自の小型光学設計技術で作られた特殊レンズを通ることによって、色（波長）ごとに異なった位置で焦点を結びます。検出ワーク上で焦点を結んだ光だけを反射光として受光し、その波長情報を分光器で距離に変換し、高さを測定いたします。投光と受光の光軸が同軸上に配置されていますので、従来の三角測距方式と違って測定範囲の全領域でワーク上の同一ポイントを的確に測定することができます。

また、レーザーではなく白色光を光源として使用しているので、一部機種を除き、レーザー光源を使用したセンサでは必要であった安全対策が不要です。さらに、前述の通り照射光と反射光が同軸となる構造を持っているので、細管の奥や微小な凹部の高さを測定する際も反射光が壁面に遮られたりすることがなく、都度センサやワークの向きを調整する必要がないことも特徴の一つとなります。

ZWシリーズでは、お客様の検査アプリケーションに応じて複数のコントローララインアップをしております。汎用アプリケーション向けのZW-5000をはじめ、超高速タイプのZW-7000､透明ワークや鏡面ワークに最適かつ最高2nmの分解能で測定可能な超高精度タイプZW-8000といった3タイプのご用意がございます。

超高速タイプのZW-7000は、最速20μsの測定周期で検査することが可能で、粗面ワーク（非鏡面ワーク）を超高速かつ安定的に測定できます。例えば、並べられた複数のワークに対してセンサを移動させながらタクトを速く検査したいといった、高速計測を求められるアプリケーションに向いています。また、白色共焦点方式の特徴として、測定誤差の原因となる多重反射光の影響をほとんど受けないため、移動させながらの検査でも測りたいポイントだけを安定して測定できます。

超高精度タイプのZW-8000は、より高精度な検査や鏡面ワークや透明ワークの検査に特化しています。光沢面でも±25度の傾斜に対応し、レンズ等の透明体の曲面や傾斜の検査に最適です。さらには、透明なシートやフィルム等で表面と裏面の反射光を分離して測定することが可能で、従来では難しかった1ヘッドでのシート厚み測定ができます。また、最小スポット径4μmのセンサヘッドを使用することで微小体の検査にも対応いたします。

センサヘッドについては、φ12mmの細軸タイプのものやライトアングルタイプ等もあり、狭小スペースへの取り付けやヘッド同士の密着取り付けも可能となっております。

ここまでZＷシリーズの機能についてご紹介させて頂きましたが、いかがでしたでしょうか？

従来の変位センサでは難しかった検査課題でも、ZWを使用することで解決することができるかもしれません。

エフ・エー・アネックスでは検査アプリケーションにも力を入れて活動をしています！

今回ご紹介させて頂いたZWシリーズにとどまらず、より簡易的な測定センサはもちろん、画像検査機や3Dスキャナなど幅広く製品を取り扱っております。

お客様の検査課題に合わせて最適な製品をご提案いたしますので、検査課題でお困りのお客様は是非とも弊社までお問合せ下さいませ！

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